测试发现micro usb口的可靠性比标准USB口高多了！

zwell · 发表于 2014-4-2 11:33

L555T_007 发表于 2014-4-2 11:20
搞笑，说的好像mini是全金属一样，mini插头和micro插头，塑料部分都差不多

micro母头里面的塑料片薄的一塌糊涂，母头的包壳强度也不高，如果插着线憋一下，多半悲剧，你玩过几个线就敢随便下结论，根本没统计意义，我做硬盘的，wd之前的elements和passport USB2.0全是用的micro USB口的usb盘，那个micro母头比一般的手机母头质量不要好太多，但是那两款micro盘的返修件中，接口损坏的相当多，其他品牌的移动硬盘用mini USB口，返修件基本没见到接口坏的。
很多人图方便，喜欢把数据线插在移动硬盘上携带，放在包里时不断横向侧向受力，时间一久，接口就变形接触不牢了，事实说明，至少在移动硬盘上，micro USB2.0比mini USB2.0接口弱。

附图你们看下wd的micro USB口和普通micro USB口
西数的micro USB

普通的micro USB

hellohello22 · 发表于 2014-4-2 11:42

L555T_007 发表于 2014-4-2 09:12
【而micro的公头其实是类似音叉头的，接触面小但粗细还可以，且接触面小能把氧化层磨掉，所以可靠性高】[ ...

1）5。5音叉头是2个组成的，夹紧，接触当然好， microUSB是单面, 和音叉头完全2回事
2）接触面小如何可以把氧化层磨掉？接触面小且弹性小，反而能把氧化层磨掉？这完全是瞎扯**不通啊
3）你可以用针，或者镊子轻轻波动下micro公头上的弹片，看看是不是弹力非常小，轻轻一碰就动了，能夹得住接触面？

建议实际去拆开看看结构，和动手试试，而不是坐在电脑面前瞎想

前面有人说miniUSB是靠摩擦接触，接触面容易翘起，呵呵，说这话明显就是YY, 对miniUSB不了解，自以为是

哥就牺牲一个miniUSB(看清楚，是miniUSB)，睁大眼睛看看弹片结构是什么样的(本来想拆一个microUSB公头弹片结构，自己没有多余的)

未标题-1.jpg

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 11:45

zwell 发表于 2014-4-2 11:33
micro母头里面的塑料片薄的一塌糊涂，母头的包壳强度也不高，如果插着线憋一下，多半悲剧，你玩过几个线 ...

西数自己用了烂料，不能说全部microUSB母座都不是金属全包吧？

如果我找个mini 半塑料母座，难道也能说全部mini 很烂么？

hellohello22 · 发表于 2014-4-2 11:46

本帖最后由 hellohello22 于 2014-4-2 11:54 编辑

zwell 发表于 2014-4-2 11:33
micro母头里面的塑料片薄的一塌糊涂，母头的包壳强度也不高，如果插着线憋一下，多半悲剧，你玩过几个线 ...

microUSB公母头根本无法插的很紧，肯定会松动，里面的小塑料片单薄的没法说了， miniUSB只要质量不太差，插进去后几乎摇动不了

接口内塑料片大小对比

未标题-2.jpg

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 11:52

hellohello22 发表于 2014-4-2 11:42
1）5。5音叉头是2个组成的，夹紧，接触当然好， microUSB是单面, 和音叉头完全2回事
2）接触面小如何可 ...

miniUSB看起来弹片弯度更大，但接触电阻不一定比micro低，弯度大不是一定就要接触力大，要看材料和结构，后面悬空和后面塑料顶死也不一样。

因为某人忽略一个问题

工厂是按什么标准生产！

如果客户定做流通1A的，接触内阻30m欧的mini 或 micro ，工厂按什么标准什么生产？

如果客户定做流通2A的，接触内阻20m欧的 micro ，工厂按什么标准什么生产？

你的意思是无论按什么标准生产，mini 都比 Micro的接触电阻更低？

hellohello22 · 发表于 2014-4-2 11:55

本帖最后由 hellohello22 于 2014-4-2 11:59 编辑

L555T_007 发表于 2014-4-2 11:45
西数自己用了烂料，不能说全部microUSB母座都不是金属全包吧？

如果我找个mini 半塑料母座，难道也能说 ...

你这明显是无理取闹，没意思

按你的说法，所有microUSB坏掉的，包括手机和硬盘，都是用烂材料造成的，你觉的手机生产商和硬盘生产有何必要在最容易出问题的元器件上用烂材料，节省了几毛钱，给自己的售后填麻烦，嫌钱太多没地方用？还是嫌自己的产品口碑太好要降一降？

你用这种思维去讨论，有什么意义

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 12:02

本帖最后由 L555T_007 于 2014-4-2 12:04 编辑

hellohello22 发表于 2014-4-2 11:55
你这明显是无理取闹，没意思

按你的说法，所有microUSB坏掉的，包括手机和硬盘，都是用烂材料造成的， ...

果然是无理取闹

你看了西数的图片没有啊？那个是金属全包？明显是金属+塑料半包的偷工减料货

上TB随便一搜 microUSB母座，基本都是金属全包的

Micro出现一个金属+塑料半包的偷工减料货就能定义为 micro全部很烂
mini出现金属+塑料半包的偷工减料货，就不能定义为 mini全部很烂

你的思维才有意思呢

hellohello22 · 发表于 2014-4-2 12:03

L555T_007 发表于 2014-4-2 11:52
miniUSB看起来弹片弯度更大，但接触电阻不一定比micro低，弯度大不是一定就要接触力大，要看材料和结构 ...

后面是不是悬空，是不是被塑料顶住，你自己去拆一个就是了，不多说

PS: 只有脑残的人才会设计成顶死

hellohello22 · 发表于 2014-4-2 12:05

本帖最后由 hellohello22 于 2014-4-2 12:08 编辑

某人在瞎捣乱，这贴算废了

我不想再浪费口舌，某人如果不是故意，就是智商太低

坛里风气越来越差，有些自以为是的人信口开河，选择性失明，避重就轻，真是无聊透顶

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 12:06

hellohello22 发表于 2014-4-2 12:03
后面是不是悬空，是不是被塑料顶住，你自己去拆一个就是了，不多说

PS: 只有脑残的人才会设计成顶死

搞笑
理解能力不错！

顶死后利用金属自己的挠度提供接触力，不是全部顶死

你不是有神奇的电桥么

干嘛不测测按1A标准生产的mini 比按2A生产的micro 接触内阻那个低嘛

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 12:10

本帖最后由 L555T_007 于 2014-4-2 12:40 编辑

hellohello22 发表于 2014-4-2 12:05
某人在瞎捣乱，这贴算废了

我不想再浪费口舌，某人如果不是故意，就是智商太低

看看是谁捣乱

哈哈哈哈

智商真高
选择性失明
================
Micro出现一个金属+塑料半包的偷工减料货就能定义为 micro全部很烂
mini出现金属+塑料半包的偷工减料货，就不能定义为 mini全部很烂
================
按1A标准生产的mini 比按2A标准生产的micro 内阻更低
================

借用某人一句，跟坛里风气无关
有些自以为是的人信口开河，选择性失明，避重就轻，
真是有趣极了

ynqs · 发表于 2014-4-2 12:24

金属弹性是很容易疲劳的，mini口靠基座的金属弹性接触，非常不靠谱，坏了就要修设备上的插座，这点上面已经有朋友提到过了，

micro口依靠插头上的金属弹性维持接触力，换了换条线就对设备本身无影响，这才是正确设计。

到了USB3以后标准，都是micro的延伸了，mini彻底淘汰。

zhcswsw · 发表于 2014-4-2 13:02

brija 发表于 2014-4-1 11:31
micro usb是很容易出问题的，拔线时把手机上的micro usb接口带出来的悲剧还少吗

这就是用那个卡 ...

那就是手机本身质量问题了

lho · 发表于 2014-4-2 13:19

ynqs 发表于 2014-4-2 12:24
金属弹性是很容易疲劳的，mini口靠基座的金属弹性接触，非常不靠谱，坏了就要修设备上的插座，这点上面已经有朋友提到过了，

micro口依靠插头上的金属弹性维持接触力，换了换条线就对设备本身无影响，这才是正确设计。

到了USB3以后标准，都是micro的延伸了，mini彻底淘汰。

micro的这种设计很好

zwell · 发表于 2014-4-2 13:21

L555T_007 发表于 2014-4-2 11:45
西数自己用了烂料，不能说全部microUSB母座都不是金属全包吧？

如果我找个mini 半塑料母座，难道也能说 ...

西数这个是烂料？我表示不实践纯yy很可怕，首先，wd出这款硬盘的时候10年左右，大部分手机充电还在300-500mA的年代，但硬盘的启动电流高达1-1.5A，读写时电流500-800mA（那个时候的硬盘功耗比现在的要大些），要求高多了，其他的不说，这个头是10u的镀金，现在大路货不过1-2u而已。第二，wd的硬盘质保三年，而且是包换，手机质保才一年，如果这个micro头还不如普通micro头，wd疯了专门开发个特殊的就为了更烂更多返修，第三，有国内山寨的这款硬盘盒，用的普通micro usb接口，那个返修能到20%，供电不足是常态，头子扯掉的不计其数。最后，这个头子能过5A电流不至于太烫，你找个可调电源接其他的micro头充电搞到5A来试试再说，而且实际上一般micro头在5v下给电池充电根本搞不出5A电流。

很多东西不要看纸面，要看实际使用，通常来说，接插件方面更小的东西要做到更好效果是非常难的，micro头在手机推广的主要原因是因为他更小更薄，micro头和标准u口，打印u口，mini的U口是一起推出的标准，如果这东西真的其他u口要好，各种设备上的u口早就全改成micro了。

zwell · 发表于 2014-4-2 13:30

L555T_007 发表于 2014-4-2 11:45
西数自己用了烂料，不能说全部microUSB母座都不是金属全包吧？

如果我找个mini 半塑料母座，难道也能说 ...

金属易变形，受力就变宽，接触就不良了，手机上其实接触差点无所谓，大不了充电慢点，硬盘接触不良就启动不了了。wd的接口里面是很厚的工程塑料，韧性强度比金属包头大多了，价格方面，标准的micro头子几分钱一个，wd那个头子是两毛二，WD也是世界第一的硬盘厂，专门开发个烂货就为了多搞点返修包换是吧？你是觉得我是逗比呢？还是觉得wd是逗比呢？
这个头长期使用接触性能没有太大变化，但反复侧向受力还是会悲剧，但从10年左右推出这样的接口，4年过去了，现在的wd硬盘用的的micro usb3.0接口仍然是这样的设计，你觉得厂家是靠yy生产产品吗？

e1580 · 发表于 2014-4-2 13:44

61楼的图只能说西数坑爹。。micro有卡扣设计受力只靠那PCB的几个焊点。。明显偷工减料。。如此用不长久完全正常。。看看我手机的micro吧。。
另外某人说mini口后面塑料顶死这不用拆也能看。。当然也有弹片后塑料是封死的。。另外再对比下mini和micro个弹片的粗细吧。。mini口是相机上应该不算差吧。。再看看micro的公头吧。。至于说micro弹片的接触力度太小。。我只能说那是你手上的线垃圾。。
还有人说micro塑料片单薄容易断。。我不知道这个基数有多大。。但至少目前我没听说。。
还有我不知道为什么一些人总要无视更换mini母口的麻烦。。

zwell · 发表于 2014-4-2 13:56

e1580 发表于 2014-4-2 13:44
61楼的图只能说西数坑爹。。micro有卡扣设计受力只靠那PCB的几个焊点。。明显偷工减料。。如此用不长久完全 ...

所以说坛子上自以为是的yy的多，wd那个焊点很弱吗？实在不好意思，返修虽然不少，但没有哪个把接口扯掉的，一般都是接口变形导致接触不良，供电不稳定导致硬盘一会儿联机一会儿断开。实际上我用力扳过那个usb接口，把电路板拌裂了，接口也没有脱落下来。

还是那句话，wd的硬盘三年包换，你先让手机做到三年包换再来说别人材料不过关

e1580 · 发表于 2014-4-2 14:53

zwell 发表于 2014-4-2 13:56
所以说坛子上自以为是的yy的多，wd那个焊点很弱吗？实在不好意思，返修虽然不少，但没有哪个把接口扯掉的 ...

接口变形还不足以说明问题么？这明显就是设计问题。。

L555T_007 · 发表于 2014-4-2 15:11

zwell 发表于 2014-4-2 13:56
所以说坛子上自以为是的yy的多，wd那个焊点很弱吗？实在不好意思，返修虽然不少，但没有哪个把接口扯掉的 ...

感觉是西数这款micro座接触性能非常好，也证明micro满足2A是无压力的
只是留了一小点败笔，外壳没有厚金属包围导致容易变形-------------------------薄金属比塑料易变型，但厚金属就好多了。

硬盘三年保，确实不错，因为硬盘盘体失效率很低，整体结构也就是PCB+盘体，维修更换方便

但强行推广到手机之类复杂装配和零件繁多易损件多的产品，自然不可行
苹果的iphone 如此高价高利润也不敢3年包换

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