测试发现micro usb口的可靠性比标准USB口高多了！

L555T_007

hellohello22 发表于 2014-4-1 13:28
ls有人口口声声什么规范

USB3.0规范最大电流是1.5A,现在很多mircoUSB线都工作2A上，那你怎么还敢用 ...

规范是要求不低于xxxxmA，但没有限制不高于xxxxmA。

厂家生产可以支持2A的micro接插件，配上足够线径的线，上2A是可行的。

事实上三星Glaxy系列出货千万台，已经可以认为micro线过2A是经过可靠验证的。

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http://www.chiphell.com/thread-731652-1-1.html
新USB 3.0标准公布，提供100w供电能力




新USB 3.0 支持 高 达 100W 的供电功率传输（支持 5V/2A、12V/1.5A、12V/3A、20V/3A、20V/5A）
还是只有2pin 做电源触点，要求不大于20m欧接触损耗
英文如下
The following requirement applies to the power contacts of a 3A PD cable assembly:
 20mΩ (Max) initial for VBUS and GND contacts.
 Maximum change (delta) of +10mΩ after environmental stresses.
 Measure at 20mV (Max) open circuit at 100mA.
The following requirement applies to the power contacts of a 5A PD cable assembly:
 20mΩ (Max) initial for VBUS and GND contacts.
 Maximum change (delta) of +10mΩ after environmental stresses.
 Measure at 20mV (Max) open circuit at 100mA.

hellohello22

L555T_007 发表于 2014-4-1 15:42
规范是要求不低于xxxxmA，但没有限制不高于xxxxmA。

厂家生产可以支持2A的micro接插件，配上足够线径的 ...

所谓的新USB3.0，其实就是USB3.1, 还没普及，况且对线的要求只会比usb3.0更高, 讨论意义不大,

维基的解释



如果一定要讨论标准，那么，uSB3.0最大1.5A, 也只有到USB3.1才是2A(5V下，至于其它12V不讨论)

所以目前USB线用到2A都超标了

e1580

hellohello22 发表于 2014-4-1 11:31
这种文章少看，基本的调就是新出来的标准各方面都比老的好（包括机械性能）， 直接无视

次数什么的数字 ...

你这情况仅仅是个例中的个例。。我以前一LG手机microusb口是我所见做得较为不错的。。我有一自制的microusb头不用大力根本插不进去。。可能是卡子下面进了AB胶。。也可能是这个头不太规范。。我说的大力是普通小女人的力气插拔都很相当的困难。。就这样我在我手机插拔了N次想让它松一点。。这样大力N次后手机的microusb照样完好。。
还有你那图的micro公口的插针接触面较为奇葩。。我所见过的都是凸起的齿点接触这样不容易接触不良。。

Vital

美的的一晚一度电听说不是完全没效果的  当然不能和正常制冷比

e1580

hellohello22 发表于 2014-4-1 11:49
近拍miniUSB和microUSB

你这俩图无铁壳的是mini口。。有壳的那个另面没看见不确定什么口。。
你上楼说的上下弯会接触不良明显是线的公口问题。。线的质量问题。。如果有我上图的接触点。。那接触肯定没问题。。这个接触好与否和mini micro的结构一点关系都没有。。还有我认为micro的公口做主动接触比mini母口做主动接触来得科学。。

hellohello22

e1580 发表于 2014-4-1 18:01
你这情况仅仅是个例中的个例。。我以前一LG手机microusb口是我所见做得较为不错的。。我有一自制的microu ...

当 miniUSB公母插好后，上下左右无法摇动， 但microUSB上下左右都可动， miniUSB靠T外壳贴合的很紧，

miniUSB内的弹性触片明显比microUSb来的粗壮，更宽压力更大，贴合更紧，microUSB的弹片太细, 压力也小，USB接触面的氧化，受潮，受污对接触不良，接触电阻影响比miniUSB大, 所以在环境比较潮湿之类环境，出现接触不良的几率更大，这也是我手机刚买不久接触好好的，用1年多就开始出问题的根源

实验室的测试环境，一般在比较良好的温度，湿度,  洁净下， 使用环境比个人使用环境好太多了， 测试出来的数据不能反映真实使用的效果，  另外个人使用还能出现用力大小，插拔方向不正之类不可控制的情况，比实验室测试来的更为苛刻。

hellohello22

e1580 发表于 2014-4-1 18:16
你这俩图无铁壳的是mini口。。有壳的那个另面没看见不确定什么口。。
你上楼说的上下弯会接触不良明显是 ...

左边miniUSB, 右边microUSB

e1580

hellohello22 发表于 2014-4-1 18:38
当 miniUSB公母插好后，上下左右无法摇动， 但microUSB上下左右都可动， miniUSB靠T外壳贴合的很紧，

m ...

说过了。。mini接触弹片在母口。。我一老手机和我一相机上的mini口弹片都不比普通的micro公头来得粗。。而且因为弹片在母口。。如有接触不良你很难更换。。micro无这烦恼。。接触不良换条线就OK了。。所以我说mini口设计部科学。。

L555T_007

hellohello22 发表于 2014-4-1 17:43
所谓的新USB3.0，其实就是USB3.1, 还没普及，况且对线的要求只会比usb3.0更高, 讨论意义不大,

维基的解 ...

超标不代表不能用，因为部件都是超标准制造

20AWG线每米33m欧，可以过10A电流(温升50度 30度--->80度)，带外皮过2A(温升20度) 有压力么？
USB2.0 用到20～22也是超N倍规格了，原先标准都是26～28.

新旧USB3.0 一样的触点，只是多了2个PD检测触点，电源触点还是2个。
线需要更粗，但更表明同样宽的触点只要线更粗就能过更大的电流


规范是要求不低于xxxxmA，但没有限制不高于xxxxmA。

厂家生产可以支持2A的micro接插件，配上足够线径的线，上2A是可行的。

事实上三星Glaxy系列出货千万台，已经可以认为micro线过2A是经过可靠验证的

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不知道你所谓的讨论意义是什么？

qipaolong

真是的，人家对比的是micro和标准的大头，你们却在比mini的，各种头子都拆开过，觉得大头普遍质量不咋地，铁的多，否则不至于那么水，另外长期用下来由于接触面大压强小，有氧化层不容易掉，可靠性就下降了，mini的头子看着大，其实母头那里的铜丝比头发丝粗不了多少，而且长度1cm左右，很容易翘起来报废掉，而micro的公头其实是类似音叉头的，接触面小但粗细还可以，且接触面小能把氧化层磨掉，所以可靠性高，母头的铜丝则类似mini的公头是跟塑料一体的，耐用度高，正好跟mini的相反，所以暂时我只见过mini母头坏的和micro公头坏的。我相信母头耐用的实际意义更大，毕竟换一根线几块钱，换个母头恐怕就得去售后了，而且人为的没有保，几十上百都是人家说了算了。

L555T_007

qipaolong 发表于 2014-4-2 09:03
真是的，人家对比的是micro和标准的大头，你们却在比mini的，各种头子都拆开过，觉得大头普遍质量不咋地， ...

【而micro的公头其实是类似音叉头的，接触面小但粗细还可以，且接触面小能把氧化层磨掉，所以可靠性高】


好像有点道理，接触压力明显加大了。确实类似音叉头

hellohello22

L555T_007 发表于 2014-4-2 08:05
超标不代表不能用，因为部件都是超标准制造

规范是要求不低于xxxxmA，但没有限制不高于xxxxmA。

usb3.0规范明确最大1.5A 不信你可以去查

最开始我和你说实际。你和我说规范

现在我和说规范 你又和我说实际


很无语。

hellohello22

qipaolong 发表于 2014-4-2 09:03
真是的，人家对比的是micro和标准的大头，你们却在比mini的，各种头子都拆开过，觉得大头普遍质量不咋地， ...

你去拆开对比就知道了

hellohello22

qipaolong 发表于 2014-4-2 09:03
真是的，人家对比的是micro和标准的大头，你们却在比mini的，各种头子都拆开过，觉得大头普遍质量不咋地， ...

你去拆开对比就知道了

L555T_007

hellohello22 发表于 2014-4-2 09:12
usb3.0规范明确最大1.5A 不信你可以去查

最开始我和你说实际。你和我说规范

呵呵

USB2.0规范要求是用20AWG线来过900mA么？

用了超规格材料不能超规格使用？

就好象原先2000mAH的18650 ,
更换新配方做成容量3000mAH就变成超标，不能使用了？

USB3.0 是1.5A, 新USB3,0（可能叫3.1吧），同样2个电源触点，加粗线就变成3～5A 了
讨论意义就在这里。

三星galxy用了超标材料，超标使用千万台。还不够证据？

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darkwind 说的是 松下公司的USB端子规范，不是USB2.0规范

松下mini usb 额定电流 1A，接触电阻<50毫欧姆，拔插寿命5000次
松下micro usb 额定电流1.8A（1、5端子），接触电阻<30毫欧姆，拔插寿命10000次

浮生，若梦

看看结构就知道了，MICRO那小塑料片能比miniusb强度好？？？当然做工要在一个水平上。

hellohello22

浮生，若梦 发表于 2014-4-2 09:45
看看结构就知道了，MICRO那小塑料片能比miniusb强度好？？？当然做工要在一个水平上。 ...

是啊，有些人就是死脑筋转不过弯，没办法

前面竟然还有人说microusb的弹片和miniUSB差不多？  有这时间瞎扯，还不如自己动手拆一个就明白了

hellohello22

L555T_007 发表于 2014-4-2 09:19
呵呵

USB2.0规范要求是用20AWG线来过900mA么？

不要再扯USB3.1的线，大家都没见过实物，包括你，都没见过的东西就不要YY，等3.1普及了再讨论也不迟

超规范使用没事，就不等于你就在理, 这是2个概念

前面我说自己手机microusb接口用一年多就不行了，有人说是我手机不行

现在三星用2A充没事，有人就说看这么多人用都没问题，规范变成可有可无了(说松下的事情又强调厂家的数据，虽然不是标准规范，层面意思是一样，说到2A充电，又强调实际使用没问题，你到底持什么立场)

讨论时立场变来变去，专捻对自己有利的来说，建议有些人还是好好整理下自己的思维吧

L555T_007

浮生，若梦 发表于 2014-4-2 09:45
看看结构就知道了，MICRO那小塑料片能比miniusb强度好？？？当然做工要在一个水平上。 ...

搞笑，说的好像mini是全金属一样，mini插头和micro插头，塑料部分都差不多


乱喷的mini/Micro 的，拜托先看看 公母的结构，它们只是互换结构而已，触点大小都差不多。

mini 是 公头平片，母头弹片，锁紧力弱，母头弹片老化要拆机换母头

micro是 母头平片，公头弹片+钩固定，锁紧力强，公头弹片老化或坏了钩只需换线

接触内阻倒是可以通过加大弹力和表面扩氧化来优化，其实优化的mini也能过2A, 不过新设备都不用mini 。

L555T_007

hellohello22 发表于 2014-4-2 11:18
不要再扯USB3.1的线，大家都没见过实物，包括你，都没见过的东西就不要YY，等3.1普及了再讨论也不迟

超 ...

不知道谁立场变来变去
USB 2.0要求 电流需要支持不低于900mA，但没有说高于900mA是不允许的
如果按 2.0规范 26～28AWG线 过 2A ,那是超规范不合规格使用

配可过2A的micro头 20～22AWG线，过2A ,那是超规范合规格使用。--------------- 发热损耗都在规范内

当然无需YY USB 3.1

因为 明晃晃的 USB 2.0 过 2A, 千万台产品实际验证