Beamfiler Basic光束质量分析仪
光研科技自主研发的光束质量分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。光束质量分析仪装置一体化设计，配套衰减方案设计，支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器，固体激光器，光纤激光器，超快激光器，激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广，性价比高，得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。Beamfiler 是一款用于Windows 系统的激光光束分析产品，我们将Beamfiler Basic型号的光束质量分析仪重磅推荐给大家。完整产品目录获取，咨询及订购方式：（电话和微信号码：15172359028）
Beamfiler Basic型号
性能特点：
本产品像素大小3.45μm
光斑检测直径范围34.5μm~7mm
标配磁吸衰减，方便操作，可选更高功率衰减配置，功率范围可达1000W.
支持手动和自动实时曝光及增益调节
高性价比，可代替进口激光光束质量分析仪，实现激光光斑检测及测试应用
典型应用：
需要对激光光斑形状进行检测得场合，如激光生产，维护以及激光应用；
光学器件质量检查；
激光腔镜调整；
外光路准直；
光纤对准耦合分析等。
产品参数：
软件功能介绍
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